Visokorazlučiva spektroskopija rendgenskoga zračenja na ionskoj mikroprobi

U ovom radu se na temelju dosadašnjeg iskustva u mjerenja Kβ spektara 3d prijelaznih metala i njihovih spojeva na već postojećem visoko razlučivom spektrometru rendgenskog zračenja Laboratorija za interakciju ionskih snopova konstruirao umanjeni valno disperzivni sustav za rad s fokusiranim ionskim snopovima s ciljem mjerenja mikrometarskih uzorka na ionskoj mikroprobi. Opisane su faze izrade spektrometra koje su uključivale optimizaciju geometrije sustava pomoću XTRACE programa, te dizajn vakuumske komore u kojoj su smješteni nosač za mete, ravni kristal i pozicijski osjetljiv detektor rendgenskog zračenja. Izrađena je procedura za obradu signala koja dvodimenzionalne slike snimljenog zračenja preoblikuje u visoko razlučive spektre. Izrađenim spektrometrom se proučavao utjecaj kemijskih efekata na karakteristično rendgensko Kα i Kβ zračenje silicija, sumpora i njihovih spojeva pobuđenih protonima. Utjecaj višestruke ionizacije na finu strukturu karakterističnog rendgenskog zračenja je proučavan pobudom ionima ugljika. Ispitane su i mogućnosti spektrometra u razlikovanju spojeva sulfata od sulfida bazirane na kemijskim efektima u Kβ spektrima sumpora te mogućnosti razdvajanja K i M linija rendgenskog zračenja koje nije moguće razlučiti energijsko disperzivnim detektorima.

Seminar će se održati u petak, 22. svibnja 2015. godine, u 11:00 sati, u predavaoni F-201

( seminar ) Fizičkog odsjeka PMF-a, Bijenička cesta 32, Zagreb

Pozivaju se studenti doktorskog studija Fizike, smjer Nuklearna fizika da prisustvuju seminaru, ako nisu spriječeni.

Voditelj smjera :

Izv. prof. dr. sc. Matko Milin, v. r.