1. komponenta

Vrsta nastave	Ukupno
Predavanja	6
Auditorne vježbe	10

* Opterećenje je izraženo u školskim satima (1 školski sat = 45 minuta)

Primjena elektronske mikroskopije i difrakcije u fizici materijala, biofizici i kemiji. Osnovni modeli elektronskih mikroskopa: rasterski elektronski mikroskop (SEM), SEM za ispitivanje okoliša (ESEM).Transmisijski elektronski mikroskop s difrakcijom i elektronska mikroskopija visokog razlučivanja. Interpretacija transmisijskih elektronskih mikrografija i difrakcija polikristalnog, monokristalnog i amorfnog uzorka. Karakterizacija defekata iz slika svijetlog i tamnog polja. Fazni kontrast. Slika visokog razlučivanja. Opažanje defekata u slici visokog razlučivanja i Z-kontrastu pri strukturnom razlučivanju manjem od 0.1 nm. Najnovija dostignuća: opažanja položaja i veza kisikovih atoma u kupratima, rješavanje kristalne strukture iz slike elektronske mikroskopije. Oslikavanje na atomskoj razini individualnih atoma dopiranih u siliciju. Ispitivanje nanokristalnih materijala. Određivanje strukturnog faktora iz slike visokog razlučivanja i iz elektronske difrakcije Primjena Rietveldove metode na elektronsku difrakcijsku sliku nanokristalnog materijala. Određivanje indeksa difrakcijskih maksimuma iz slike elektronske difrakcije. Posjet laboratoriju za mikrostrukturna istraživanja na FO PMF-a i upoznavanje s osnovama rada na transmisijskom elektronskom mikroskopu.

1. D.B. Williams and C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, A Textbook for Materials Science, PlenumPress, New York 1996.
2. J.J. Goldstein, D.E. Newbury, P. Echlin, D.C. Joy , C. Fiori, E. Lihshin, Electron Microscopy and X- ray Microanalysis, Plenum Press, New York / London, 1984.
3. J.J. Bozzola, L.D. Russell, Electron microscopy, Jones & Bartlett Publishers Canada, Toronto, 1992.

Biofizika - izborni predmeti 1 - Redovni Smjer - Biofizika